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CDGW520耐腐型導波雷達物位計

波雷達發出的高頻微波脈沖沿著探測組件(鋼纜或鋼棒)傳播,遇到被測介質,由于介電常數突變,引起反射,一部分脈沖能量被反射回來。發射脈沖與反射脈沖的時間間隔與到被測介質的距離成正比。

容器中存在兩種不同介質,當上面一層的介質介電常數較小,而下面的介質介電常數較大時,高頻微波脈沖沿著探測組件傳播遇到上層介質時,由于其介電常數較小,因而有極少的能量被這一層介面反射,而大部分能量穿透上層介質繼續向下傳播,遇到兩層的介面時,由于下層介質的介電常數較大,因而會有較大的能量被反射回來。因而導波雷達是可以測量兩種不同介質的介面,其測量條件是上層介質不導電或其介電常數比下層介質介電常數小10以上。


特  點


由于采用了先進的微波處理器和獨特的EchoDiscovery回波處理技術,導波雷達物位計可以應用于各種復雜工況。

多種過程連接方式及探測組件的型式,使得CDGW系列導波雷達物位計適用于各種復雜工況。如:高溫、高壓及小介電常數介質等。

采用脈沖工作方式,導波雷達物位計發射功率極低,可安裝于各種金屬、非金屬容器內,對人體及環境均無傷害。

應用:液體及固體測量,復雜過程條件

最大量程:纜:30m/棒:6m

測量精度:±10mm

過程連接:G1?A、G2A、1?NPT

探測組件材料:不銹鋼316L/PTFE

鋼纜/棒直徑:¢6mm、¢8mm/¢10mm

過程溫度:-40~150℃

過程壓力:-0.1~40bar

信號輸出:兩線制4~20mA/HART

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